粉末X射线衍射仪以 X 射线衍射为核心，为先进材料、复杂体系与多场景应用提供系统化分析能力。无论是基础研究、工艺开发，还是质量验证，它都能帮助用户捕捉材料中的关键信息，让结构表征成为推动创新的可靠力量。

粉末X射线衍射仪技术特点

• 光路：全自动可调光学系统，自动光阑、防散射狭缝，优化粉末样品衍射信噪比，降低背景干扰。

• 探测器：高灵敏度二维阵列探测器，缩短粉末图谱采集时间。

• 软件：自研 IdoMeas© 仪器控制与数据采集软件，可完成图谱采集、物相检索、定量计算，支持第三方解析软件对接。

• 拓展能力：可加装原位样品台（变温、气氛），实现粉末材料在温度 / 气氛环境下的动态晶体结构演变监测。

• 安全：整机封闭式防护结构，X 射线安全联锁，满足实验室辐射安全规范。

每一次材料创新，都始于对结构的深入理解。N8 DiffraX 以 X 射线衍射为核心，为先进材料、复杂体系与多场景应用提供系统化分析能力。无论是基础研究、工艺开发，还是质量验证，它都能帮助用户捕捉材料中的关键信息，让结构表征成为推动创新的可靠力量。

N8 DiffraX 能完成的应用：

基础数据质量是一切的基石：

峰位正确性、角度分辨率、信噪比与重复性，是衡量 X 射线衍射仪基础性能的核心指标。它们直接决定了物相识别的准确性、细微结构差异的分辨能力、弱信号的捕捉能力，以及长期测试结果的一致性。N8 DiffraX 回归衍射分析的基础能力建设，通过扎实的系统设计与精密工程控制，持续提升这些关键数据表现，为复杂材料表征和高性能应用提供可靠支撑。

·每台发货系统随机配置SRM1976c,全谱角度验收

·全谱范围内(20~140°/2θ)角度位置准确性优于±0.01°

·实测 SRM 660c LaB6（110）峰的FWHM优于 0.026°

·15 次重复性测试验证,峰位标准偏差达到万分之级别，最大偏移量优于0.001度

·万分之级角度重复性带来更可靠、更敏感的结构分析能力

·测试样品： 石英固体标准样品 (101)晶面  SS 0.01度，ST 0.2s

DiffraX Vertex One™系统

DiffraX Vertex Pro™系统

粉末X射线衍射仪主要技术参数：